对于微型扬声器、耳机驱动单元和其他薄结构、简单悬挂设计的换能器类型，摇摆模式是一个常见问题。膜片上这些不希望有的倾斜共振经常出现在通频带的低频部分，在再现低音时会限制驱动单元的稳定性：由于摇摆模式的阻尼非常低，设计中很小的不均匀性就会触发较大的倾斜角使得音圈撞到磁隙的边界。线圈的摩擦将大大缩短扬声器的使用寿命，并产生的过度冲击性失真也会降低产品的感知质量。

摇摆模式分析 (RMA)可为解决此类问题提供必要的诊断信息。使用激光测振法（Klippel激光扫描仪系统SCN或通过POLY2SCN的Polytec LDV）测量的振动数据，将不需要的摇摆模式从活塞模式中分离出来。

RMA 可以识别机电系统中质量、刚性和力因数分布的不平衡。还可量化每个根本原因对整个摇摆运动的贡献，并揭示膜片上质量、刚度和激励力不平衡的中心位置。利用这些信息，可以发现设计中的薄弱环节并解决制造中的问题，有效降低了输出信号中音圈摩擦和脉冲失真的风险，对扬声器的质量和可靠性大有裨益。