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功能和优点
● 自我学习和自适应方案
● 检查从分包商处交付的磁铁
● 将模拟的B场分布与测量的样品进行比较
● 分析磁体不准确的原因
● 稳定且精确的霍尔探头
● 非常薄的霍尔传感器 (0.65 mm)
● 如果在测量过程中弯曲，可将传感器拉直
● 易于使用
● 适用于各种音圈磁隙
● KLIPPEL R&D系统完全支持
● 专用测量软件B场扫描仪是KLIPPEL扫描测振仪 (R&D系统）的附加组件，或者也可以单独作为手动高斯计使用。当与专用的B场扫描仪（BFS）软件结合使用时，它可提供全自动B场3D扫描。
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规格书S4 3D失真测量 (DIS)
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适合以下标准测量互调失真
谐波失真
直流位移 – 音圈的动态偏移
基波分量的压缩
分离的扬声器失真
电压和电流
音圈温度
波形和频谱
幅度和相位响应
轴上远场声压
辐射分析
近场测量 -
产品
DIS标准版
根据IEC 60268-5提供所有标准测量。DIS专业版
除DIS标准测量功能外，还提供幅值调制失真测量。 -
要求
硬件
• Klippel Analyzer 3 (KA3)附件
• 功率放大器
• 激光传感器（可选）
• PC -
该图说明了使用DIS进行测量和MAT 2.0进行后处理，在定义的THD限制 (1%、5％和10％)下测量最大SPL。DIS模块可改变激励幅度，并保护被测传感器免受机械和热过载。MAT 2.0模块自动提取DIS的测量结果，并计算相应的SPL限值。在dB-Lab中有一个针对此应用的测试对象模板：“Max SPL Level for given THD（给定THD下的最大SPL)“。 -
相关信息
R&D和QC系统的其他模组
多音失真测试任务(MTD)
多音测量 (MTON)应用笔记
AN4 峰值位移Xmax
AN6 幅度调制
AN72 使用Klippel R&D测试无线音频设备R&D -
标准
消费者电子协会
CEA-CEB19，CEA-803 R200X，CEA-2006-A，CEA-2019，CEA-2031国际电工委员会
IEC 60268-1，IEC 60268-3，IEC 60268-4，IEC 60268-5，IEC 60268-7，IEC 60268-21，IEC 60268-22，IEC 61094-5，IEC 61305-5，IEC 61842，IEC WD 63034欧洲标准
BS EN 54-24，BS EN 50332音频工程学会
AES2，AES56电气与电子工程师协会
IEEE 269，IEEE 1206，IEEE 1329，IEEE 1652美国国家标准协会
ANSI S1.15 - Part 1，ANSI S1.15 - Part 2，ANSI S3.7， ANSI S3.22，ANSI S3.25，ANSI S12.42国际电信联盟
ITU-R BS. 775-2, ITU-R BS. 1116, ITU-R BS. 1534-1, ITU-T P.79电信行业协会
TIA-470，TIA-810，TIA-920美国测试与材料学会
ASTM F2504-05
